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Home > Welt-Ticker > Neues Apple-Bildformat lässt Prüfungen platzen
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Neues Apple-Bildformat lässt Prüfungen platzen
« am: 27.05.2020, 12:19:32 »
   

Sogenannte Advanced-Placement-Tests für College-Bewerber in den USA gingen schief, weil die zuständige Institution nicht mit HEIF-Bildern umgehen kann.



Quelle: http://www.heise.de
    

Stichworte: Apple, Bildformat, College, HEIC, Kompression, Prüfung, USA, Universität, iOS, iPhone
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